Analysis of modulated Ho2PdSi3 crystal structure at Pd K and Ho L absorption edges using resonant elastic X-scattering Wissenschaftlicher Artikel uri icon

Überblick

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2016

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Sprachen

  • englisch

Beteiligte Organisationen

  • Fakultät Maschinenbau

Web of Science ID

  • WOS:000368788100020

Forschung

Schlagwörter

  • DAFS
  • FDMNES
  • REXS
  • XANES
  • modulated structures
  • rare-earth compounds
  • silicon compounds

Identität

International Standard Serial Number (ISSN )

  • 09538984

PubMed ID

  • 26788844

weitere Informationen zum Dokument

Band

  • 28

Heftnummer

  • 6