Establishing continuous flow manufacturing in a Wafertest-environment via value stream design uri icon Tagungsband

Im Bibliotheksbestand

Überblick

Freigegeben

  • Ja

AutorInnen

  • Keil, Sabrina
  • Schneider, Germar
  • Eberts, D
  • Wilhelm, Kai
  • Gestring, I
  • Gestring, Ingo
  • Lasch, R
  • Deutschlander, A

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2011

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Peer Reviewed

  • Nein

Sprachen

  • englisch

Im Bibliotheksbestand

  • Ja Im Bibliotheksbestand

Forschung

Schlagwörter

  • Automotive engineering
  • Business
  • Convergence
  • Logic gates
  • Manufacturing
  • Materials
  • Production
  • Value Stream Design
  • Wafertest
  • continuous flow manufacturing
  • high-mix
  • job shop
  • low-volume
  • semiconductor industry

Identität

International Standard Serial Number (ISSN )

  • 10788743

Internationale Standardbuchnummer (ISBN) 10

  • 1612844081

Anderes

Kuratierungs-Zielkategorie (intern)

  • Ja