Scaling Aspects of Nanowire Schottky Junction based Reconfigurable Field Effect Transistors Tagungsband uri icon

Überblick

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2019

Autor/in (verknüpft)

  • Baldauf, Tim  Professor für Theoretische Elektrotechnik / Optoelektronik

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Sprachen

  • englisch

Beteiligte Organisationen

  • Fakultät Elektrotechnik

Forschung

Schlagwörter

  • RFET
  • SBFET
  • Schottky junction
  • TCAD
  • nanowire
  • reconfigurable logic
  • scaling
  • screening length
  • simulation
  • tunneling

Identität

International Standard Serial Number (ISSN )

  • 24729132

Internationale Standardbuchnummer (ISBN) 13

  • 1728116589