Study of 22/20nm Tri-Gate transistors compatible in a low-cost hybrid FinFET/planar CMOS process uri icon Tagungsband

Überblick

Freigegeben

  • Ja

AutorInnen

  • Baldauf, T
  • Baldauf, Tim
  • Wei, Andy
  • Illgen, Ralf
  • Flachowsky, Stefan
  • Herrmann, Thomas
  • Hontschel, J
  • Horstmann, Manfred
  • Klix, Wilfried
  • Stenzel, R

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2011

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Peer Reviewed

  • Nein

Sprachen

  • englisch

Im Bibliotheksbestand

  • Nein

Forschung

Schlagwörter

  • Electrostatics
  • FinFETs
  • Logic gates
  • Threshold voltage

Identität

Internationale Standardbuchnummer (ISBN) 10

  • 1457717549

Anderes

Kuratierungs-Zielkategorie (intern)

  • Ja