Influences of SMD sample preparation and examination conditions on shear test results Tagungsband uri icon

Überblick

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2017

Autor/in (verknüpft)

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Sprachen

  • englisch

Beteiligte Organisationen

  • Fakultät Elektrotechnik; Zentrum für angewandte Forschung und Technologie e. V.

Forschung

Schlagwörter

  • Aging
  • Electronic components
  • Heating systems
  • Lead
  • Soldering
  • Springs
  • Stress

Identität

International Standard Serial Number (ISSN )

  • 21612528

Internationale Standardbuchnummer (ISBN) 13

  • 1538605821