In-depth electrical characterization of carrier transport in ambipolar Si-NW Schottky-barrier FETs
Konferenz-Paper
Überblick
Veröffentlichungszeitpunkt
- 2017
Autor/in (verknüpft)
- Baldauf, Tim Professor für Theoretische Elektrotechnik / Optoelektronik
Open-Access-Kennzeichnung
- Closed Access
Sprachen
- englisch
Beteiligte Organisationen
- Fakultät Elektrotechnik