In-depth electrical characterization of carrier transport in ambipolar Si-NW Schottky-barrier FETs uri icon Konferenz-Paper

Peer Reviewed Im Bibliotheksbestand

Überblick

Freigegeben

  • Ja

AutorInnen

  • Jeon, Dae-Young
  • Baldauf, Tim
  • Jeong Park, So
  • Pregi, Sebastian
  • Baraban, Larysa
  • Cuniberti, Gianaurelio
  • Mikolajick, Thomas
  • Weber, Walter Michael

Veröffentlichungszeitpunkt

  • 2017

Open-Access-Kennzeichnung

  • Closed Access

Peer Reviewed

  • Ja

Sprachen

  • englisch

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  • Ja Im Bibliotheksbestand

Identität

Anderes

Kuratierungs-Zielkategorie (intern)

  • Ja