Beteiligt an Projekt/Förderung Prozess- und Bauelementesimulation von Si:C-Nanobauelementen Förderung Prozess- und Bauelementesimulationskonzept für 32 nm CMOSFET-Technologie Förderung Simulation von GaN-Leistungstransistoren Förderung Simulation von energieeffizienten CMOS-Bauelementen mit Stressoren Förderung Simulation von energieeffizienten Ultra-Kurzkanal-FETs Förderung
Publikation (Autor/in) Analyse und Optimierung von verspannten Schichten auf CMOS–Transistoren Konferenz-Paper Bauelementesimulation zum Entwurf eines vertikalen GaN-MOSFET mit einer Durchbruchspannung von 1 kV Kapitel Detailed simulation study of embedded SiGe and Si:C S/D stressors in nano scaled SOI MOSFETs Wissenschaftlicher Artikel Effect of source/drain extension dopant species on device performance of non-diffuse embedded SiGe strained SOI P-MOSFETs. Wissenschaftlicher Artikel Entwicklung von energieeffizienten Hochleistungstransistoren GaN-Bauelementekonzepte für den Einsatz in Hochspannungsanwendungen Konferenz-Paper Influence of Ionization Modelling for Mg-doped GaN on Transfer and Breakdown Characteristics of Vertical GaN-MOSFET Konferenz-Paper Investigation of vertical GaN-MOSFET breakdown effects by device simulation Konferenz-Paper Message from Conference Chairs Tagungsband Mobility and strain effects for <100> and <110> oriented silicon and SiGe transistor channels Konferenz-Paper Simulation and Optimization of Tri-Gates in a 22nm Hybrid Tri-Gate/Planar Process Konferenz-Paper Simulation of asymmetric doped high performance SOI MOSFETs for VLSI CMOS technologies Wissenschaftlicher Artikel Suppression of the corner effects in a 22 nm hybrid tri-gate/planar process Konferenz-Paper Understanding strain-induced drive-current enhancement in strained-silicon n-MOSFET and p-MOSFET. Wissenschaftlicher Artikel Investigation of advanced FDSOI CMOS devices for analog/mixed signal applications Vortrag Optimization of Stressor Overlayer Parameters for MOSFET's in "Cool Silicon" – Technologies Konferenz-Paper Stress Memorization Technique for n-MOSFETs: Where is the Stress Memorized? Wissenschaftlicher Artikel
Betreute Dissertation Integration von Multi-Gate-Transistoren auf Basis einer 22 nm-Technologie Abschlussarbeit Neuartige Ausheilverfahren in der SOI-CMOS-Technologie Abschlussarbeit Simulation und Optimierung neuartiger SOI-MOSFETs Abschlussarbeit Simulation von GaN-Leistungstransistoren Abschlussarbeit Verspannungstechniken zu Leistungssteigerung von SOI-CMOS-Bauelementen Abschlussarbeit
ausgewählte Veröffentlichungen konferenz-paper Mobility and strain effects for <100> and <110> oriented silicon and SiGe transistor channels 2012 Simulation and Optimization of Tri-Gates in a 22nm Hybrid Tri-Gate/Planar Process 2011 Suppression of the corner effects in a 22 nm hybrid tri-gate/planar process 2011 tagungsband Message from Conference Chairs 2021